蛍光X線膜厚測定器

（Fischer製FISCHERSCOPE XDV-μ）

半導体検出器タイプの蛍光X線膜厚測定器を導入しました。
微小部への膜厚測定に適しています。
半導体検出器を使用しているため、今まで測定が困難であった
多層メッキの下地めっき膜厚測定等が可能です。