(Fischer製FISCHERSCOPE XDV-μ)
半導体検出器タイプの蛍光X線膜厚測定器を導入しました。 微小部への膜厚測定に適しています。 半導体検出器を使用しているため、今まで測定が困難であった 多層メッキの下地めっき膜厚測定等が可能です。
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