コンタクトプローブに使用されるプランジャーやスプリング等の微小・微細部品への金めっき等加工を得意としています。

fiscerscope

蛍光X線膜厚測定器(半導体検出器)

蛍光X線膜厚測定器(半導体検出器)

Fischer製FISCHERSCOPE XDV-μ
微小部への膜厚測定に適しています。
半導体検出器を使用しているため、今まで測定が困難であったNi-PのP含有率や多層メッキの下地めっき膜厚測定等が可能となっています。

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