コンタクトプローブに使用されるプランジャーやスプリング等の微小・微細部品への金めっき等加工を得意としています。

蛍光X線膜厚測定器

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蛍光X線膜厚測定器(半導体検出器)
(Fischer製FISCHERSCOPE XDV-μ)

半導体検出器タイプの蛍光X線膜厚測定器を導入しました。
微小部への膜厚測定に適しています。
半導体検出器を使用しているため、今まで測定が困難であった
多層メッキの下地めっき膜厚測定等が可能です。

お気軽にお問い合わせください。 TEL 0293-42-1820

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